無機材料元素成分分析

我司擁有X射線光電子能譜（XPS），理學X射線衍射儀（XRD），帕納科X射線衍射儀（xrd），島津X射線熒光光譜（XRF)等設備，可對無機樣品成分和結構進行全方位分析

序號	類別	項目/參數
1	X射線光電子能譜（XPS)	可對樣品進行預處理（高真空、氮氣保護H2，空氣等不同氣氛的處理），原位的測定處理前后樣品的表面元素的分布及價態變化。
2	理學X射線衍射儀（XRD）	X射線發生器功率為3KW 測角儀最小步進為1/10000度步長：0.02 掃速：4度/分
3	帕納科X射線衍射儀(XRD)	功率：3Kw 測角儀重現性：0.0001度發散度：<0.01度最小步長<0.0001度測角儀的精確度<0.0001度
4	島津X射線熒光光譜（XRF)	可進行固體、粉末、液體等多種樣品的定性分析和無需工作曲線的FP法定量分析。