無機(jī)材料元素成分分析

我司擁有X射線光電子能譜（XPS），理學(xué)X射線衍射儀（XRD），帕納科X射線衍射儀（xrd），島津X射線熒光光譜（XRF)等設(shè)備，可對(duì)無機(jī)樣品成分和結(jié)構(gòu)進(jìn)行全方位分析

序號(hào)	類別	項(xiàng)目/參數(shù)
1	X射線光電子能譜（XPS)	可對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理（高真空、氮?dú)獗Ｗo(hù)H2，空氣等不同氣氛的處理），原位的測(cè)定處理前后樣品的表面元素的分布及價(jià)態(tài)變化。
2	理學(xué)X射線衍射儀（XRD）	X射線發(fā)生器功率為3KW 測(cè)角儀最小步進(jìn)為1/10000度步長：0.02 掃速：4度/分
3	帕納科X射線衍射儀(XRD)	功率：3Kw 測(cè)角儀重現(xiàn)性：0.0001度發(fā)散度：<0.01度最小步長<0.0001度測(cè)角儀的精確度<0.0001度
4	島津X射線熒光光譜（XRF)	可進(jìn)行固體、粉末、液體等多種樣品的定性分析和無需工作曲線的FP法定量分析。